¿Qué es un microscopio de fuerzas atómicas?
Fuente original: Wikipedia
Un microscopio de fuerzas atómicas (AFM por sus siglas en inglés) es un tipo de microscopio de sonda de barrido de muy alta resolución, que puede medir fracciones del nanómetro, más de 1000 veces mejor que el límite de difracción óptico.
El precursor de la AFM, el microscopio de efecto túnel (STM), fue desarrollado por Gerd Binnig y Heinrich Rohrer a principios de la década de 1980 en el centro IBM Research - Zurich, un progreso que les valió el Premio Nobel de Física en 1986. Binnig, Quate y Gerber inventaron el primer microscopio de fuerzas atómicas en 1986. El primer microscopio de fuerzas atómicas disponible comercialmente apareció en 1989.
La AFM es una de las herramientas más importantes para elaborar mapas topográficos de la materia a escala nanométrica. La información es recogida por barrido detectando las fuerzas moleculares y atómicas que actúan sobre una punta situada sobre la superficie del material estudiado. Los elementos piezoeléctricos, que permiten movimientos pequeños pero exactos en el mando electrónico, hacen posible un escaneo muy preciso. En algunas variaciones, también se pueden medir los potenciales eléctricos utilizando micropalanques conductoras. En versiones más nuevas y avanzadas, incluso es posible medir la conductividad eléctrica de la superficie subyacente transmitiendo corriente eléctrica a través de la punta, pero este método es más difícil y hay pocos grupos de investigación que presenten datos fiables con este sistema.
